高温老化测试箱用小型电子元器件、小型光电、小型LED等产品做耐寒试验、温度快速变化或渐变条件下的适应性试验。特别使用于进行电子、电工产品的环境应力筛选(ESS)试验。
高温老化测试箱规格参数：
型号：T--HWS-150
内箱尺寸WxHxD：50x60x50
外箱尺寸WxHxD：100x185x100
温度范围：+50～150℃(A) 0～150℃(B) -20～150℃(R) -40～150℃(L) -60～150℃(S) -70～150℃ ( T ) -100～150℃(H)
湿度范围：20%～98% （10%～98%）
温度波动度：±0.3℃
升降温速率：升温≥3.5 ℃/min 降温≥1 ℃/min
制冷方式：单元制冷方式/双元(复叠)制冷方式
高温老化测试箱安保装置：
压缩机过热保护； 压缩机过流保护 ；压缩机超压保护；冷凝风机过热保护 可调式超温保护； 空气调节通道极限超温保护； 风机电机过热保护 总电源相序和缺相保护； 漏电保护； 加热加湿干烧保护 超载及短路保护； 断电保护
安装场地：
地面平整，通风良好
设备周围无强烈振动
设备周围无强电磁场影响
设备周围无易燃、易爆、腐蚀性物质和粉尘